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Á¤¹ÎÁØ ±âÀÚÀÔ·Â : 2026. 06. 15(¿ù) 14:34
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Á¤¹ÎÁØ ±âÀÚ jil3679@hanmail.net
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ÇÑÆí, º» ¿¬±¸ °á°ú´Â ¡®Oxygen-Pressure-Controlled Rapid Thermal Annealing for Defect Modulation and Performance Optimization in ALD ZnO Thin-Film Transistors¡¯¶ó´Â Á¦¸ñÀ¸·Î Àç·á°úÇÐ ¹× ÄÚÆÃ․¹Ú¸· ºÐ¾ßÀÇ ±¹Á¦ Àú¸í ÇмúÁö ¡®Applied Surface Science¡¯(IF 6.9, JCI Percentile 97.9%)¿¡ Áö³­ 9ÀÏ ¿Â¶óÀÎ °ÔÀçµÆ´Ù.
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