[경제/ctn] 한국기계연구원은 17일 산업통상자원부 기술표준원에서 개최한 '2013 세계 표준의 날' 기념식에서 나노융합기계연구본부 이학주 박사(만 54세, 나노융합기계연구본부장)가 나노측정 분야 원천기술 개발 및 국제표준화에 기여한 공로로 산업포장을 수상했다고 밝혔다.

이학주 박사는 28년간 기계구조물의 물성 및 피로강도 평가, 나노측정 및 공정 분야 등에서 원천기술을 개발해 국제표준을 제안하고 특허를 출원·등록해 국가경쟁력 향상에 기여한 공로를 인정받았다.

나노측정 기술은 나노 크기 소재의 기계적, 전자기적, 광학 물성 등을 측정하고 평가하는 기술로, 나노공정 기술을 실제 제품 생산에 적용할 때 필수적이다.

기계연의 이학주 박사팀이 개발한 나노측정 기술인 '띠굽힘시험법'은 세계 3대 국제표준기구 중 하나인 국제전기기술위원회 (IEC)의 미세전자기계시스템(MEMS, Micro Electro Mechanical System) 분야 국제표준 기술로 채택돼 세계 나노기술을 선도하고 있다.

띠굽힘 시험법은 길이가 길고 두께가 얇은 마이크로·나노 구조물을 변형시키며 하중 등을 간편하고 정확하게 측정하는 방법으로, 측정의 자동화는 물론 관련 제품들의 신뢰성을 크게 향상시킬 수 있다.

이학주 박사팀은'띠굽힘시험법'을 이용한 박막의 인장물성 측정법 등 국제표준 2건(IEC 62047-8, IEC 62047-10)을 만족하는 시험 장치를 국내 시험기 제조업체에 기술이전해 국산화 개발을 추진하고 있다.

이학주 박사는 "첨단 기술 분야인 나노측정은 지금까지 상용화 및 신뢰성 확보 등에 어려움이 있어왔으나, 이번 연구개발(R&D)을 통해 국제 표준이 확립되고, 기술 상용화까지 이어진다는 점에서 큰 의미가 있다고 생각한다"며, "난제 극복을 위해 함께 노력한 연구팀에게 깊이 감사드린다"고 소감을 밝혔다.

한편, 이학주 박사팀의 나노측정 기술은 2010년 '국가연구개발 우수성과 100선'에 선정됐으며, 기계연 최우수연구상을 수상한 바 있다. 이학주 박사는 현재 국제전기위원회 MEMS 분야(IEC SC47F) 기술위원, 과제 책임자 등의 활동으로 관련 분야에서 국제표준을 선도해오고 있다.